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低对比度细节检测模体是一种专门用于检测X射线等设备在低对比度环境下性能的实验工具。低对比度细节检测模体的使用可以帮助医疗人员更好地理解影像设备的性能表现，进而更准确地判断病情并制定出更有效的治疗方案。
更新日期：2023-11-25
产品型号：
厂商性质：经销商
低对比度细节检测模体用于快速定量检测影像成像质量，可以用于X射线放射影像系统，CR系统(TO16);$n$n2.直径250mm，厚度10mm;圆板中有12组不同细节点，每组中有12个不同直径的细节点。144个细节点的对比度范围从0.0014到0.924(在75kV和1.5mm铜滤过的条件下)。
更新日期：2023-11-24
产品型号：
厂商性质：经销商
产品简介 十字嵌铅刻度软米尺(软铅尺) KR020 长30cm，宽3cm，1mm刻度间距，嵌铅刻度。
更新日期：2023-11-25
产品型号：
厂商性质：经销商
德国IBA TYPE39c型 线对卡 主要用于测试X射线机的高分辨率。 量程：1.5-12LP/MM，组数14组。 铅箔厚度为0.06mm, 尺寸为30X60mm.
更新日期：2023-11-24
产品型号：
厂商性质：经销商
双丝像质计（德国）根据ISO19232-5/EN462-5/ASTM E2002标准生产，ISO19232-5/ EN462-5/ASTM E2002双丝像质计是由放置于刚性半透明塑料盒中的13个线对组成，双丝像质计丝的直径与丝与丝之间的距离相等，每个线对包含两条圆形截面的线。1D至3D线对是金属钨，其它线对是金属铂。双丝像质计用于确定射线照相和实时射线透照系统的几何不清晰度。
更新日期：2023-11-24
产品型号：
厂商性质：经销商
双丝像质计介绍 双线像质计的样式和主要尺寸如图1所示, 基本结构包括:封装板、13个丝对、识别标志号,各部分经粘结构成具有一定刚性的整体。金属丝的材质为铂和钨。
更新日期：2023-11-24
产品型号：
厂商性质：经销商
JIMA（日本检测仪器制造商协会）致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
更新日期：2023-11-24
产品型号：
厂商性质：经销商
